儀器特點
規格(ge)參數:
工作波長范圍
190-2800nm
掃描方式
透過率、吸光度、反(fan)射率、能量
波長準(zhun)確(que)度
±0.5nm(UV/VIS);±8nm(NIR)
波長重復性
0.3nm(UV/VIS); ±4nm(NIR)
采樣間隔
0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm
光度(du)范圍
0.300~2.5A
光度準確度
±0.3%T(0-100%T)
光度重復性
0.2%T
基線(xian)平直度
±0.008A(200-2500nm,預熱30分鐘后(hou))
光譜(pu)帶寬
0.2nm-10nm
雜散光
≤0.2%T(220nm)
外形尺寸
830*600*260mm
紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)軟件功能: 本儀器(qi)工作軟件具(ju)有豐富的(de)測試(shi)分析(xi)功(gong)能,可進行透過(guo)率、吸(xi)光度、能量、反射(she)率測量。具(ju)有光譜掃描、定點測量、多波長(chang)測量的(de)功(gong)能。
紫外(wai)可見近紅外(wai)分光(guang)光(guang)度計(UV-VIS-NIR)儀(yi)器成(cheng)套性(xing):
紫(zi)外(wai)可見(jian)近紅外(wai)分光光度計主(zhu)機、USB數據線、石英比色(se)皿、擋零塊、應用軟件、配套工具等 * 計算機(ji)及打印機(ji)(需(xu)另配)。 紫外可見近紅外分光光度計(UV-VIS-NIR)可選附件: 專(zhuan)用反(fan)射(she)附件(jian)、專(zhuan)用固體樣品(pin)測(ce)(ce)量(liang)附件(jian)、專(zhuan)用漫反(fan)射(she)樣品(pin)測(ce)(ce)量(liang)附件(jian)